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      2. DENSsolutions Stream TEM 原位液相加熱/加電方...

        價(jià)格
        電議

        型號(hào)
        Stream

        品牌
        DENSsolutions

        所在地
        上海市 閔行區(qū)

        更新時(shí)間
        2024-03-14 11:08:12

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          Stream TEM 原位液相加熱/加電方案


          DENSsolutions Stream TEM 原位液相加熱/加電方案


          01 產(chǎn)品概況


          Stream TEM 原位液相加熱/加電方案為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類研究提供了全新的觀察視野。其設(shè)計(jì)的 Nano-Cell 芯片使其對(duì)樣品加熱或加電時(shí)可獨(dú)立控制流速和液體厚度。而之后集合組裝的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) ,引入了*控制和可重復(fù)使用的惰性氣體吹掃能力。通過(guò)吹掃,可以迅速去除樣品中多余的液體。從而實(shí)現(xiàn)高分辨成像、有價(jià)值的元素分析和電子衍射。并且 LSS 提供了的能力,主動(dòng)測(cè)量液體流量,能夠比較不同的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。此外,這意味著可以很容易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中潛在的堵塞,并迅速采取行動(dòng),能夠高效和有效地利用 TEM 機(jī)時(shí)。這些的設(shè)計(jì)為原位液相實(shí)驗(yàn)的原子級(jí)分辨像和高質(zhì)量的 EDS、EELS 結(jié)果帶來(lái)了新的可能性。


          02 產(chǎn)品特點(diǎn)


          實(shí)驗(yàn)*率高


          1. 確保樣品-液體相互作用

          精心設(shè)計(jì)的微流體通道始終確保樣品和液體相互作用。


          2. 消除不需要的氣泡

          氣泡可以從成像區(qū)域沖走或溶解,從而更好地控制實(shí)驗(yàn)條件。


          3. 引入新鮮液體

          成像區(qū)域中的液體流量科控,使其能夠保持恒定和定向的流量,從而實(shí)現(xiàn)連續(xù)的新鮮液體供應(yīng)。


          4. 使用便捷

          集成的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) 大大簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的操作步驟,具備高度用戶友好性。


          可靠的環(huán)境刺激控制


          1. 液體吹掃和厚度控制

          通過(guò)*小化液體厚度控制或通過(guò)吹掃 Nano Cell 芯片來(lái)實(shí)現(xiàn)高分辨成像、高精度元素分析和電子衍射。


          2.液體流量測(cè)量

          通過(guò)流量控制可以實(shí)現(xiàn)對(duì)液相實(shí)驗(yàn)動(dòng)態(tài)情況的完全掌握。


          3. 大量運(yùn)輸控制

          探索液體動(dòng)力學(xué)對(duì)樣品形態(tài)和電化學(xué)變化的影響。


          清潔實(shí)驗(yàn)


          1. 避免交叉污染

          樣品桿的模塊化設(shè)計(jì)使用戶可以便捷地清潔或更換每一個(gè)組件。


          2. 避免堵塞

          在您的實(shí)驗(yàn)過(guò)程中輕松清潔管道,無(wú)需從透射電鏡上取下樣品桿。





          原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)簡(jiǎn)介


          透射電子顯微鏡(TEM)一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn),科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現(xiàn)在原子尺度上對(duì)材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征成像。此外,TEM 的進(jìn)步也帶動(dòng)了 CCD 相機(jī)的發(fā)展,這樣,TEM 就同時(shí)具有優(yōu)異的空間分辨率和時(shí)間分辨率,那么時(shí)間和空間的結(jié)合,是否可以讓 TEM 動(dòng)起來(lái)?


          眾所皆知,TEM 需要在高真空條件下表征靜止?fàn)顟B(tài)下的樣品,但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此,荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用*的 MEMS 技術(shù),設(shè)計(jì)出了的納米芯片,據(jù)此可以向 TEM 中引入動(dòng)態(tài)外界刺激條件,模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài),打破壓力的限制,記錄樣品的動(dòng)態(tài)變化過(guò)程,讓 TEM 真正的實(shí)現(xiàn)動(dòng)起來(lái)。


          荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)*的、納米尺度的原位顯微工具,其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激,捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前,已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。


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