Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電方案是 Lightning TEM 原位熱電方案拓展的新成員。通過 Lightning  Arctic 樣品桿，可以在冷卻或加熱樣品的同時，對其施加可控的電學刺激，并以原子級分辨率在透射電鏡下 觀察樣品的實時動態(tài)過程。 

Lightning Arctic 系統有兩種工作模式： 1）冷凍&加電；2）加熱&加電。它大大拓寬了 TEM 的應用領域范圍，進而為研究低溫物理，以及探究材料、器件的工藝條件與其結構、性質和性能的關系提供了的可能性。 DENSsolutions *的 MEMS 納米芯片采用四探針法加熱，可*控制加電和加熱，并輸出準確的數據。其的芯片設計可單獨或同時達到*的電場環(huán)境和加熱溫度。

為什么要選擇 Lightning Arctic 原位冷凍熱電方案? 

1) 直接進行原位低溫冷凍和加熱實驗

Lightning Arctic 樣品桿內的冷卻棒可將"冷"傳遞到樣品桿前端的芯片。一旦冷卻棒連接到浸入在液氮罐的 金屬冷須上，樣品就能在 TEM 內冷卻到液氮溫度。除冷卻外，Lightning Arctic 樣品桿還能進行原位加熱實驗，*可達到 800 ℃、甚至 1300 ℃（使用特殊芯片）。

2) 原子成像高穩(wěn)定性與高質量

基于 Lightning Arctic 原位樣品桿的設計，額外配置了數個溫度控制器，以穩(wěn)定冷卻過程中的樣品漂移。其中一個控制器確保與 TEM 的溫度平衡，其余的控制器用于穩(wěn)定控制樣品的冷卻流量。同時，使用外部液氮罐有助于*限度地減少液氮氣泡，從而實現低樣品漂移的高質量原子成像。

3) 持續(xù)*的溫度控制  

我們*的加熱 & 加電芯片可以在不干擾樣品桿冷卻過程的情況下，對樣品進行精細的微區(qū)溫控。這意味著可以快速設定用戶想要的溫度，并且把改變溫度時所帶來的圖像漂移和離焦偏移降到*小，同時確保原子級的高分辨成像。

4) 輕松實現樣品所需的晶向  

Lightning Arctic 雙傾樣品桿可在 α 和 β 兩個方向上傾轉樣品（視極靴類型，10° - 25°），以對準到所需晶帶軸。

5) 在冷卻/加熱過程中進行原位加電實驗

與 Lightning Arctic 樣品桿兼容的加熱 & 加電納米芯片包含加電電極，可用于在冷卻或加熱過程中施加和測 量電信號。同時，在納米芯片上制備可用于電學實驗的 FIB 樣品薄片也是非常重要的。DENSsolutions 為 Lightning 系統開發(fā)的成熟化工具（如 FIB 樣品臺），也可用于在 Lightning Arctic 系統的加熱&加電芯片 上制備高質量、無短路的 FIB 樣品薄片。