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l 模塊化系統(tǒng)由探頭、調(diào)節(jié)采樣箱、分析柜組成
l 系統(tǒng)自動(dòng)備份,防止數(shù)據(jù)丟失
l 基于NDIR的CO2分析儀和基于UVDOAS的SO2分析儀
l 可通過(guò)控室進(jìn)行遠(yuǎn)程控制
l 自動(dòng)校準(zhǔn)
l 信號(hào)輸出:4-20mA Profinet Modbus Profibus
l 雙向輸入/輸出
l IACS UR E10
l 符合IMO Marpol 附錄6
l RINA船級(jí)社
l 堅(jiān)固耐用的船用柜和不銹鋼組件
l 用戶使用現(xiàn)場(chǎng)可更換樣品調(diào)節(jié)箱進(jìn)行連續(xù)操作
l 低持有成本
加熱氣體采樣探頭用于連續(xù)采樣系統(tǒng),即使樣品中含有灰塵及氣溶膠。水蒸氣和和高腐蝕氣體必須保持在露點(diǎn)之上,以防止在分析及樣品處理之前被腐蝕或樣品降解。探頭可提供多種版本,以滿足用戶特定需求。探頭包括一個(gè)非腐蝕性加熱的可更換陶瓷過(guò)濾元件。過(guò)濾元件安裝在一個(gè)電加熱不銹鋼外殼上,外殼由隔熱的防風(fēng)雨外殼覆蓋。溫度調(diào)節(jié)由免維護(hù)的全電子溫度調(diào)節(jié)器控制,低于特定溫度時(shí)會(huì)報(bào)警。加熱的樣品軟管Jh系列直接連接探頭外殼上的可移動(dòng)PG42電纜導(dǎo)管。通過(guò)安裝夾可用于連接其它類型的加熱樣品軟管。
在這些領(lǐng)域中的許多分析過(guò)程都需要提取樣氣。這不可避免的會(huì)提取一些與工藝相關(guān)的氣體,因此入分析池之前需要調(diào)節(jié)處理樣氣。冷卻Paltier效應(yīng)消除了樣氣中的水分,將干燥的樣氣輸送到分析儀中。并非所有應(yīng)用都要求輸出露點(diǎn)為5℃,在某些應(yīng)用中,較高的露點(diǎn)就夠了。其中的污染物,例如顆粒或水分會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,或者損傷測(cè)量池。因此,對(duì)于輸出露點(diǎn)來(lái)說(shuō),應(yīng)足夠低于環(huán)境溫度。高輸出溫度的優(yōu)點(diǎn)是對(duì)于給定的環(huán)境溫度,Paltier冷卻器提供了足夠的冷卻性能。
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加熱氣體采樣探頭用于連續(xù)采樣系統(tǒng),即使樣品中含有灰塵及氣溶膠。水蒸氣和和高腐蝕氣體必須保持在露點(diǎn)之上,以防止在分析及樣品處理之前被腐蝕或樣品降解。探頭可提供多種版本,以滿足用戶特定需求。探頭包括一個(gè)非腐蝕性加熱的可更換陶瓷過(guò)濾元件。過(guò)濾元件安裝在一個(gè)電加熱不銹鋼外殼上,外殼由隔熱的防風(fēng)雨外殼覆蓋。溫度調(diào)節(jié)由免維護(hù)的全電子溫度調(diào)節(jié)器控制,低于特定溫度時(shí)會(huì)報(bào)警。加熱的樣品軟管Jh系列直接連接探頭外殼上的可移動(dòng)PG42電纜導(dǎo)管。通過(guò)安裝夾可用于連接其它類型的加熱樣品軟管。
在這些領(lǐng)域中的許多分析過(guò)程都需要提取樣氣。這不可避免的會(huì)提取一些與工藝相關(guān)的氣體,因此入分析池之前需要調(diào)節(jié)處理樣氣。冷卻Paltier效應(yīng)消除了樣氣中的水分,將干燥的樣氣輸送到分析儀中。并非所有應(yīng)用都要求輸出露點(diǎn)為5℃,在某些應(yīng)用中,較高的露點(diǎn)就夠了。其中的污染物,例如顆粒或水分會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,或者損傷測(cè)量池。因此,對(duì)于輸出露點(diǎn)來(lái)說(shuō),應(yīng)足夠低于環(huán)境溫度。高輸出溫度的優(yōu)點(diǎn)是對(duì)于給定的環(huán)境溫度,Paltier冷卻器提供了足夠的冷卻性能。