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      2. EDX280D 貴金屬測試儀 能量色散XRF熒光測金儀

        價格
        電議

        型號
        EDX280D

        品牌
        蘇州英飛思

        所在地
        暫無

        更新時間
        2024-09-25 11:51:52

        瀏覽次數(shù)

          EDX280D黃金分析儀,可快速進行黃金K鑒定

          XRF是一種快速,且無損的工具,用于地分析貴金屬材料成分。考慮到當前黃金的高價值,準確測試其純度比以往任何時候都更為重要。

          EDX280D是一種易于使用且具有成本效益的方法,可用于獲得黃金化學成分和K分類。

          280D貴金屬分析儀使用高效的正比計數(shù)器,價格定位合理,全新的FP基本參數(shù)法軟件。更人性化,便捷的操作,完全滿足貴金屬分析測試的要求


          >精打細算:EDX280D是*成本效益的XRF測金儀

          >緊湊的設(shè)計,占用*小的空間

          >快速無損準確

          >操作簡便

          >*少的樣品制備

          技術(shù)參數(shù)

          含量測試范圍:            5ppm to 100 %

          重復性:                  RSD≤0.05% (Au≥90%)

          探測器:                  正比計數(shù)盒   動態(tài)計數(shù)率線性范圍: 0- 30000 cps                   

          樣品類型:                固體,粉末

          貴金屬元素:              Au, Ag, Pt, Pd 金銀鉑鈀等

          基本元素:                Ni, Cu, Zn鎳銅鋅等

          高壓輸出范圍:            0KV ~ 50KV

          光管管流 :               0μA ~ 1000μA

          高清攝像頭:              內(nèi)置

          數(shù)字多道數(shù)據(jù)采集器:      DPP

          樣品腔尺寸:              310*280*60mm

          測試時間:                30 ~ 120秒可調(diào)

          軟件:                    Fundamental Parameter 基本參數(shù)法FP軟件

          儀器尺寸:                380*372*362mm

          儀器重量:                30Kg

          供電 :                   200-240V AC, 50/60Hz

           

           

           

          應用領(lǐng)域

          珠寶工廠

          珠寶店

          當鋪

          銀行業(yè)務

           

          優(yōu)點

          正比計數(shù)盒檢測器的高計數(shù)率吞吐量

          用戶友好且功能強大的FP貴金屬測試軟件

          獨立的矩陣效應校正模型

          多變量非線性回歸程序

           

          局限性

          可以檢測到有限的元素通常小于10

          XRF是一種表面/近表面分析技術(shù),這意味著樣品必須緊貼儀器測試窗口

           

          我們的提供廣泛的客戶支持

          ?基礎(chǔ)和高級用戶課程

          ?*技術(shù)服務平臺

          ?保修支持和儀器維修

          ?儀器(軟件和硬件)升級

          ?備件(可通過訓練有素的經(jīng)銷商購買)

          ?消耗品

           

           

           

          什么是XRF能量色散X熒光光譜儀?

          X射線熒光光譜儀由以下部分組成:X射線發(fā)生器(X射線管,高壓電源),光學器件(分析晶體,準直儀和濾光片),計數(shù)和記錄系統(tǒng)(脈沖輻射分析儀,校準儀) ,計時器,積分器,記錄器)。不同的元素具有不同波長的特征X射線光譜,并且每條線的熒光強度與元素的濃度具有一定的關(guān)系??梢酝ㄟ^測量待測元素的特征X射線線的波長和強度來進行定性和定量分析    


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