導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表,雷達波以光速運行,運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播,當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收,并將距離信號轉化為物位信號。
導波雷達物位計的原理:
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質,由于介電常數突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。
反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分,微處理器對此信號進行處理,識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成,距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比:
D=C×T/2
其中C為光速
導波雷達物位計的特點有以下幾個:
由于采用了*的微處理器和的Echo Discovery回波處理技術,導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式,使得70X系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質等。
采用脈沖工作方式,導波雷達物位計發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環(huán)境均無傷害。
導波雷達物位計的型號:
FEK-7000(液體)、FEK-7010(固體粉料)、FEK-7200(液體)、FEK-7300(液體)
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導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表,雷達波以光速運行,運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播,當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收,并將距離信號轉化為物位信號。
導波雷達物位計的原理:
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質,由于介電常數突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。
反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分,微處理器對此信號進行處理,識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成,距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比:
D=C×T/2
其中C為光速
導波雷達物位計的特點有以下幾個:
由于采用了*的微處理器和的Echo Discovery回波處理技術,導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式,使得70X系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質等。
采用脈沖工作方式,導波雷達物位計發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環(huán)境均無傷害。
導波雷達物位計的型號:
FEK-7000(液體)、FEK-7010(固體粉料)、FEK-7200(液體)、FEK-7300(液體)