鍍金鍍鎳膜厚檢測儀

鍍金鍍鎳膜厚檢測儀下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為電子，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的）則代表該元素的含量或厚度。 鍍金鍍鎳膜厚檢測儀是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從S到U。 可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。 滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。 鍍金鍍鎳膜厚檢測儀可用于連接器、汽車配件、線路板、半導體等行業(yè)。根據(jù)鍍層測厚儀技術(shù)分類，測厚儀產(chǎn)品包含：XRF鍍層測厚儀、電解式鍍層測厚儀、渦流鍍層測厚儀、磁感應(yīng)鍍層測厚儀等多種鍍層測厚儀產(chǎn)品。根據(jù)鍍層測厚儀的外形分類，測厚儀包含：手持式鍍層測厚儀、臺鍍層式測厚儀。電鍍層鍍層測厚儀它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)幾十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到50μm。電鍍鍍層測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優(yōu)點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。X熒光鍍層測厚儀高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。簡易：對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。天瑞一直致力于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服務(wù)。 X熒光鍍層測厚儀特點-簡易： 對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。天瑞一直致力于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。 鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。