CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設計、開發(fā)的一種光學儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標準樣板圖進行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高。是理化試驗室的設備。 技術參數(shù)： 投影屏：200×200mm 放大倍數(shù)：50X 光源：12V 100W（鹵鎢燈） 電源：220V 50Hz 150W 外型尺寸：515×224×603mm 重量：約18Kg