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AT810D LCR 數(shù)字電橋

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2019-10-08 10:37:56

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

AT810D LCR 數(shù)字電橋

2011年新第五版，穩(wěn)定性更佳，新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴(lài)于安柏儀器精湛的技術(shù)
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)試電平，使其能滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT810D具有傻瓜式操作界面。

技術(shù)規(guī)格：

測(cè)量參數(shù)	LCRZ
監(jiān)視參數(shù)	DQθ(deg)θ(rad)
基本準(zhǔn)確度	0.2%
測(cè)試頻率	100Hz120Hz1kHz10kHz
顯示范圍	L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF RZ:0.0001Ω-99.99MΩW Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°° θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001～9.9999
輸出阻抗	30Ω100Ω
量程	6量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試
*大讀數(shù)	主參數(shù)：99999 副參數(shù)：99999
信號(hào)電平	0.3Vrms和1Vrms
測(cè)試速度	3次/秒
比較器	1組文件記錄，5檔分選
列表掃描	無(wú)
校準(zhǔn)	開(kāi)路/短路點(diǎn)頻或掃頻清零
接口	無(wú)接口
其它	VFD顯示，鍵盤(pán)鎖和數(shù)據(jù)保持功能
電源要求	電壓：198VAC～240VAC 頻率：50Hz 功率：大20VA
尺寸與重量	264 (寬)x107(高)x350 (深) ，重量：4kg
附件	ATL501:測(cè)試電纜 ATL601: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片

性能特征：

	高亮度，清晰四色VFD顯示。
	校正功能：全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。
	第三窗口可同時(shí)顯示 Z D Q θ ΔABS Δ%或分選結(jié)果。
	1000V強(qiáng)沖擊保護(hù)

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產(chǎn)品描述

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