SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀，雙目體式顯微鏡，光學(xué)放大倍數(shù)：40倍-100倍

應(yīng)用范圍：應(yīng)用范圍：測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
 

【產(chǎn)品詳情】
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
小讀數(shù)：0.1℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
±2℃（在200～300℃時(shí)）
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)

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