AT810D LCR 數字電橋
2011年新第五版,穩(wěn)定性更佳,新按鍵設計,操作更簡單。 AT810D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測試儀器。大規(guī)模的貼片技術的運用,使得AT810D僅需微型機箱即可容納。依賴于安柏儀器精湛的技術 內建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測試頻率,并且提供0.3V和1V測試電平,使其能滿足一般生產現場的使用。 使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810D具有傻瓜式操作界面。
技術規(guī)格:
測量參數
LCRZ
監(jiān)視參數
DQθ(deg)θ(rad)
基本準確度
0.2%
測試頻率
100Hz120Hz1kHz10kHz
顯示范圍
L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF RZ:0.0001Ω-99.99MΩW Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°° θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001~9.9999
輸出阻抗
30Ω100Ω
量程
6量程自動或手動測試
*大讀數
主參數:99999 副參數:99999
信號電平
0.3Vrms和1Vrms
測試速度
3次/秒
比較器
1組文件記錄,5檔分選
列表掃描
無
校準
開路/短路點頻或掃頻清零
接口
無接口
其它
VFD顯示,鍵盤鎖和數據保持功能
電源要求
電壓:198VAC~240VAC 頻率:50Hz 功率:大20VA
尺寸與重量
264 (寬)x107(高)x350 (深) ,重量:4kg
附件
ATL501:測試電纜 ATL601: 測試夾具 ATL600: 短路片
性能特征:
高亮度,清晰四色VFD顯示。
校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
第三窗口可同時顯示 Z D Q θ ΔABS Δ%或分選結果。
1000V強沖擊保護
其他推薦產品
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AT810D LCR 數字電橋
2011年新第五版,穩(wěn)定性更佳,新按鍵設計,操作更簡單。
AT810D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測試儀器。大規(guī)模的貼片技術的運用,使得AT810D僅需微型機箱即可容納。依賴于安柏儀器精湛的技術
內建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測試頻率,并且提供0.3V和1V測試電平,使其能滿足一般生產現場的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810D具有傻瓜式操作界面。
技術規(guī)格:
測量參數
LCRZ
監(jiān)視參數
DQθ(deg)θ(rad)
基本準確度
0.2%
測試頻率
100Hz120Hz1kHz10kHz
顯示范圍
L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF RZ:0.0001Ω-99.99MΩW Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°° θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001~9.9999
輸出阻抗
30Ω100Ω
量程
6量程自動或手動測試
*大讀數
主參數:99999 副參數:99999
信號電平
0.3Vrms和1Vrms
測試速度
3次/秒
比較器
1組文件記錄,5檔分選
列表掃描
無
校準
開路/短路點頻或掃頻清零
接口
無接口
其它
VFD顯示,鍵盤鎖和數據保持功能
電源要求
電壓:198VAC~240VAC 頻率:50Hz 功率:大20VA
尺寸與重量
264 (寬)x107(高)x350 (深) ,重量:4kg
附件
ATL501:測試電纜 ATL601: 測試夾具 ATL600: 短路片
性能特征:
高亮度,清晰四色VFD顯示。
校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
第三窗口可同時顯示 Z D Q θ ΔABS Δ%或分選結果。
1000V強沖擊保護
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溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
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