泰勒粗糙度儀DUO
內(nèi)容簡介: 泰勒粗糙度儀DUO
SURTRONIC DUO粗糙度儀,可測Ra,Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。
技術參數(shù);
測量范圍:200µm
誤差:0.8mm±15%
分辨率:Ra:0.1µm-40µm
Rz::0.1µm-199µm
濾波器:ISO 2CR
尺寸:125×80×38mm
重量:200g
其他推薦產(chǎn)品
首頁| 關于我們| 聯(lián)系我們| 友情鏈接| 廣告服務| 會員服務| 付款方式| 意見反饋| 法律聲明| 服務條款
泰勒粗糙度儀DUO
內(nèi)容簡介:
泰勒粗糙度儀DUO
SURTRONIC DUO粗糙度儀,可測Ra,Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。
技術參數(shù);
測量范圍:200µm
誤差:0.8mm±15%
分辨率:Ra:0.1µm-40µm
Rz::0.1µm-199µm
濾波器:ISO 2CR
尺寸:125×80×38mm
重量:200g